納米掃描探針顯微鏡工作模式：

1. 標準工作(zuo)模式：

1.1 輕敲模(mo)式(shi)(Vibration mode)

1.2 接觸模(mo)式(Contact mode)

1.3 相位(wei)成像(xiang)模式(Phase imaging)

1.4 橫向(xiang)力模式(Lateral force Microscopy LFM)

1.5 力曲(qu)線測(ce)試（Force curve）可測(ce)楊氏模量(liang)

1.6 納米操(cao)控 （Nanomanipulation）

1.7 納米刻(ke)蝕 （Nanolithography）

1.8 力(li)矩陣模式 （Force Mapping）

1.9 摩擦力測試 （Friction Mode）

2. 可選(xuan)工作模式：

2.1 磁(ci)力顯微鏡模式（MFM mode）

2.2 靜電力顯(xian)微鏡模式（EFM mode）

2.3 導(dao)電(dian)顯微鏡模式(shi)（C-AFM mode）

2.4 液相模(mo)式 （Liquid scan mode）

AFMWorkshop是專(zhuan)門從事(shi)設計和制造原(yuan)子(zi)力(li)顯(xian)微鏡的專(zhuan)業化(hua)公司(si) 。公司(si)創始人(ren)是有30年原(yuan)子(zi)力(li)顯(xian)微鏡經驗的 Paul West博士(shi)，原(yuan)子(zi)力(li)顯(xian)微鏡教(jiao)材《Atomic Forces Microscopes》的作者。

納米掃描探針顯微鏡技術參數

掃描范圍(wei)：100 μm，50 μm，15μm

Z方向范圍(wei)：17 μm，7 μm

XY方向驅動分(fen)辨率：0.01 nm

Z方向驅動分辨(bian)率：0.003 nm

Z方向測量噪(zao)音水平(ping)：0.15 nm

樣品尺(chi)寸：直徑25mm