HR-AFM原(yuan)子力(li)顯微鏡

主要優勢：

1、全新設計(ji)的KMD運動學結構，降低了噪音水平，輕松(song)實現(xian)原子(zi)級分辨率。

2、提(ti)供可(ke)視化下針系統，操作簡單(dan)，對新(xin)手(shou)友好(hao)。

3、提高了掃(sao)描速度，10秒出圖。

1.標準工作模式：

1.1輕(qing)敲模式(Vibration mode)

1.2接觸(chu)模(mo)式 (Contact mode)

1.3相位成(cheng)像模式(shi) (Phase imaging)

1.4橫向(xiang)力模式(shi) (Lateral force Microscopy LFM)

1.5力(li)曲線測試（Force curve）可測楊氏模量

1.6 納(na)米操控 （Nanomanipulation）

1.7 納米刻蝕 （Nanolithography）

1.8 力矩(ju)陣模(mo)式 （Force Mapping）

1.9 摩擦力測試(shi) （Friction Mode）

2. 可選工作(zuo)模式：

2.1 磁力(li)顯微鏡(jing)模式（MFM mode）

2.2 靜(jing)電力顯(xian)微鏡模式（EFM mode）

2.3 導電顯(xian)微鏡模式（C-AFM mode）

2.4 液相模式 （Liquid scan mode）

AFMWorkshop是專(zhuan)門從事設計和(he)制(zhi)造原(yuan)子(zi)(zi)力(li)顯微鏡(jing)的(de)專(zhuan)業化公司(si) 。公司(si)創始人是有30年原(yuan)子(zi)(zi)力(li)顯微鏡(jing)經驗的(de) Paul West博(bo)士，原(yuan)子(zi)(zi)力(li)顯微鏡(jing)教材《Atomic Forces Microscopes》的(de)作者。

掃描范圍：100 μm，50 μm，15μmZ方向范圍：17 μm，7 μmXY方向驅動分辨率：0.01 nmZ方向驅動分辨率：0.003 nmZ方向測量噪音水平：0.03 nm樣品尺寸：直徑25