TT2-AFM原子力顯微鏡

1.標準(zhun)工作模式：

1.1輕(qing)敲(qiao)模式(Vibration mode)

1.2接觸模式(Contact mode)

1.3相位成像模式(Phase imaging)

1.4橫向力模式(Lateral force Microscopy LFM)

1.5力曲(qu)線測試（Force curve）可(ke)測楊氏模量

1.6納(na)米操控 （Nanomanipulation）

1.7納米刻(ke)蝕 （Nanolithography）

1.8力(li)矩陣模式 （Force Mapping）

1.9摩擦力測試 （Friction Mode）

2. 可選工作模(mo)式：

2.1 磁力(li)顯微(wei)鏡模式(shi)（MFM mode）

2.2 靜電力(li)顯微鏡(jing)模(mo)式（EFM mode）

2.3 導電顯微鏡模式（C-AFM mode）

2.4 液相(xiang)模式 （Liquid scan mode）

AFMWorkshop是專(zhuan)門從事設計和制造原(yuan)(yuan)(yuan)子力顯(xian)微(wei)鏡(jing)的(de)(de)專(zhuan)業化公(gong)司 。公(gong)司創始人是有30年原(yuan)(yuan)(yuan)子力顯(xian)微(wei)鏡(jing)經驗的(de)(de) Paul West博(bo)士，原(yuan)(yuan)(yuan)子力顯(xian)微(wei)鏡(jing)教材(cai)《Atomic Forces Microscopes》的(de)(de)作(zuo)者(zhe)。

掃描范圍：100 μm，50 μm，15μmZ方(fang)向范圍：17 μm，7 μmXY方向驅動分(fen)辨(bian)率：0.01 nmZ方向(xiang)驅動分(fen)辨率：0.003 nmZ方向測量噪(zao)音水(shui)平(ping)：0.15 nm樣品尺寸：直徑25mm