葛蘭帕國產版HR-AFM原子力顯微鏡是一款專業級的高分辨率原子力顯微鏡，Z軸噪音低于35皮米。該設備可以在不破壞樣品內部結構的情況下觀測樣品微區三維形貌和多相結構；同時可對樣品表面物理化學特性進行研究，數值測定與分析。

葛蘭帕國產版HR-AFM原子力顯微鏡標準工作模式：

輕敲(qiao)模式(shi)(Vibration mode)，接觸模式(shi) (Contact mode)，相位成(cheng)像模式(shi) (Phase imaging)，橫向力模式(shi) (LFM)，力曲線測試（Force Curve），納米(mi)操控(kong) （Nanomanipulation），納米(mi)刻(ke)蝕(shi) （Nanolithography），力矩(ju)陣(zhen)模式(shi) （Force Mapping），摩擦力測試 （Friction Mode）

可選工作模式：導電原子力顯微鏡(jing) （C-AFM），磁力顯微鏡(jing)（MFM），靜電力顯微鏡(jing)（EFM）,掃描電勢顯微鏡(jing)（SKPM）。

設(she)備具有軟(ruan)件自動進(jin)針(zhen)功能。通(tong)過軟(ruan)件控制Z方向馬達實現探針(zhen)自動進(jin)針(zhen)。

X,Y,Z三軸分離(li)的掃描器。

掃描范圍 100×100×17μm

Z軸(zhou)分辨率(lv)0.035nm

樣品臺尺(chi)寸：25mm*25mm*18mm 

操(cao)作軟件(jian)：使用Laview環(huan)境(jing)語言(yan)控制，免(mian)費提供操(cao)作軟件(jian)，并提供維護(hu)及(ji)升(sheng)級。提供Gwyddion IMAGE ANALYSIS SOFTWARE 數據分析系(xi)統

頂視(shi)系(xi)統光學分辨(bian)率(lv)≤2微米，視(shi)場范圍從2mm*2mm到(dao)300um*300um可調，放(fang)大倍率(lv)從45倍到(dao)400倍機械可調。

側視系統，提供可(ke)(ke)視化下針，可(ke)(ke)以通過電腦(nao)精確觀(guan)察(cha)控(kong)制下針過程(cheng)，防(fang)止撞(zhuang)針。