NP-AFM原子力顯微鏡

主要優勢：

1、全(quan)新(xin)設計(ji)的KMD運動學結構，降低了噪音水平，輕松實現(xian)原子級分辨(bian)率(lv)。

2、提供可視化下(xia)針系統，操作簡(jian)單，對(dui)新(xin)手友好。

3、提高了掃(sao)描速度(du)，10秒出圖。

1.標準工作模式：

1.1輕敲(qiao)模式(Vibration mode)

1.2接觸(chu)模式 (Contact mode)

1.3相位成像模式 (Phase imaging)

1.4橫向(xiang)力模式 (Lateral force Microscopy LFM)

1.5力(li)曲線測試（Force curve）可測楊氏模量

1.6 納米操控 （Nanomanipulation）

1.7 納米(mi)刻蝕 （Nanolithography）

1.8 力矩(ju)陣(zhen)模(mo)式(shi) （Force Mapping）

1.9 摩擦(ca)力測試 （Friction Mode）

2. 可選工作模式：

2.1 磁力顯微(wei)鏡模式（MFM mode）

2.2 靜電力顯微鏡模式（EFM mode）

2.3 導電(dian)顯微鏡模(mo)式（C-AFM mode）

2.4 液相模式 （Liquid scan mode）

AFMWorkshop是(shi)專(zhuan)門從事設計和制造原(yuan)子力(li)顯微(wei)(wei)鏡(jing)的專(zhuan)業化公(gong)司(si) 。公(gong)司(si)創始人(ren)是(shi)有30年原(yuan)子力(li)顯微(wei)(wei)鏡(jing)經驗的 Paul West博士，原(yuan)子力(li)顯微(wei)(wei)鏡(jing)教材(cai)《Atomic Forces Microscopes》的作(zuo)者(zhe)。

掃描范圍：100 μm，50 μm，15μmZ方向范圍：17 μm，7 μmXY方向驅動分辨率：0.01 nmZ方向驅動分辨率：0.003 nmZ方向測量噪音水平：0.03 nm樣品尺寸：直徑25