簡(jian)要描述:提(ti)供(gong)原(yuan)子力顯微(wei)鏡(jing)(jing)(jing)(jing)定制服務(wu)。葛蘭帕LS-AFM原(yuan)子力顯微(wei)鏡(jing)(jing)(jing)(jing)AFMWorkshop是一個與倒置光學(xue)顯微(wei)鏡(jing)(jing)(jing)(jing)聯(lian)合(he)的(de)用(yong)于(yu)生命科(ke)學(xue)和(he)(he)生物材(cai)料樣(yang)品研究顯微(wei)鏡(jing)(jing)(jing)(jing)。 是一個針式掃描(miao)的(de)原(yuan)子力顯微(wei)鏡(jing)(jing)(jing)(jing)。它(ta)包括電子控制器,光杠桿光學(xue)探測,光學(xue)顯微(wei)鏡(jing)(jing)(jing)(jing),用(yong)于(yu)查(cha)看(kan)針尖和(he)(he)樣(yang)品的(de)位置,獲取(qu)圖像結果(guo)和(he)(he)后處理(li)的(de)軟件(jian)。該系統具有在(zai)原(yuan)子力顯微(wei)鏡(jing)(jing)(jing)(jing)XY軸上相(xiang)對于(yu)倒置顯微(wei)鏡(jing)(jing)(jing)(jing)來定位樣(yang)品。樣(yang)品臺適用(yong)于(yu)培(pei)養(yang)皿,載(zai)玻(bo)片和(he)(he)標準AFM樣(yang)品臺.
品牌 | 其他品牌 | 儀器種類 | 原子力顯微鏡 |
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價格區間 | 面議 | 產地類別 | 進口 |
應用領域 | 食品,化工,能源,電子,制藥 |
葛蘭帕LS-AFM原子力顯微鏡AFMWorkshop工作模式
1. 標準工(gong)作模式:
1.1 輕敲模式(Vibration mode)
1.2 接觸模(mo)式(Contact mode)
1.3 相位成像模式(Phase imaging)
1.4 橫(heng)向(xiang)力(li)模(mo)式(Lateral force Microscopy LFM)
1.5 力曲線測試(Force curve)可(ke)測楊(yang)氏模量
1.6 納米操控 (Nanomanipulation)
1.7 納米刻(ke)蝕 (Nanolithography)
1.8 力矩陣模(mo)式 (Force Mapping)
1.9 摩擦力(li)測(ce)試(shi) (Friction Mode)
2. 可選工作模式:
2.1 磁力顯微鏡模式(shi)(MFM mode)
2.2 靜電力顯微鏡模(mo)式(shi)(EFM mode)
2.3 導電顯微鏡模式(C-AFM mode)
2.4 液相模式 (Liquid scan mode)
AFMWorkshop是專門從事設計和(he)制造原(yuan)子(zi)力(li)顯(xian)微(wei)鏡的(de)(de)專業化(hua)公司 。公司創始(shi)人(ren)是有30年原(yuan)子(zi)力(li)顯(xian)微(wei)鏡經(jing)驗的(de)(de) Paul West博士(shi),原(yuan)子(zi)力(li)顯(xian)微(wei)鏡教材(cai)《Atomic Forces Microscopes》的(de)(de)作者(zhe)。
葛蘭帕LS-AFM原子力顯微鏡AFMWorkshop技術參數
掃描(miao)范圍:100 μm,50 μm,15μm
Z方向范(fan)圍:17 μm,7 μm
XY方向驅動分辨(bian)率:0.01 nm
Z方向驅動分辨率(lv):0.003 nm
Z方(fang)向測量噪音水平(ping):0.15 nm
樣品尺寸(cun):直徑25mm
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