HR-AFM低溫掃描探針顯微鏡是一款專業級的原子力顯微鏡，Z軸噪音低于35皮米。該設備可以在不破壞樣品內部結構的情況下觀測樣品微區三維形貌和多相結構；同時可對樣品表面物理化學特性進行研究，數值測定與分析。

國內生產的HR-AFM原子力顯微鏡(jing)

標準工作模式：輕敲模式(Vibration mode)，接觸模式 (Contact mode)，相位成像模式 (Phase imaging)，橫向力模式 (LFM)，力曲線測試（Force Curve），納米操控 （Nanomanipulation），納米刻蝕 （Nanolithography），力矩陣模式 （Force Mapping），摩擦力測試 （Friction Mode）

可選工作模(mo)式(shi)：導電原子(zi)力(li)顯(xian)微(wei)鏡 （C-AFM），磁力(li)顯(xian)微(wei)鏡（MFM），靜電力(li)顯(xian)微(wei)鏡（EFM）,掃(sao)描電勢(shi)顯(xian)微(wei)鏡（SKPM）。

低溫掃描探針顯微鏡具有軟件自動進針功能。通過軟件控制Z方向馬達實現探針自動進針

X,Y,Z三軸分離的掃描器。

掃描范圍 100×100×17μm

Z軸分辨率0.035nm

樣品臺尺寸：25mm*25mm*18mm

操作軟件(jian)：使用(yong)Laview環(huan)境語言(yan)控(kong)制，免費(fei)提供(gong)操作軟件(jian)，并提供(gong)維護及升級

提(ti)供Gwyddion IMAGE ANALYSIS SOFTWARE 數據分析系統

頂視系(xi)統(tong)光(guang)學(xue)分辨(bian)率≤2微米(mi)

視場范圍從2mm*2mm到(dao)300um*300um可調，放大倍(bei)率(lv)從45倍(bei)到(dao)400倍(bei)機械(xie)可調

側(ce)視(shi)系(xi)統，提(ti)供可(ke)視(shi)化(hua)下針(zhen)，可(ke)以通(tong)過(guo)電腦精確(que)觀(guan)察控制下針(zhen)過(guo)程，防止撞針(zhen)