HR-AFM多功能掃描探針顯微鏡是一款專業級的原子力顯微鏡，Z軸噪音低于35皮米。該設備可以在不破壞樣品內部結構的情況下觀測樣品微區三維形貌和多相結構；同時可對樣品表面物理化學特性進行研究，數值測定與分析。

國內生(sheng)產的HR-AFM原子力顯微鏡

標準工作模式：輕敲模式(Vibration mode)，接觸模式 (Contact mode)，相位成像模式 (Phase imaging)，橫向力模式 (LFM)，力曲線測試（Force Curve），納米操控 （Nanomanipulation），納米刻蝕 （Nanolithography），力矩陣模式 （Force Mapping），摩擦力測試 （Friction Mode）

可選工(gong)作模式(shi)：導電原(yuan)子力(li)顯微鏡 （C-AFM），磁力(li)顯微鏡（MFM），靜(jing)電力(li)顯微鏡（EFM）,掃(sao)描電勢顯微鏡（SKPM）。

多功能掃描探針顯微鏡具有軟件自動進針功能。通過軟件控制Z方向馬達實現探針自動進針

X,Y,Z三軸分離的掃(sao)描器。

掃描范圍(wei) 100×100×17μm

Z軸分辨率(lv)0.035nm

樣品(pin)臺尺寸：25mm*25mm*18mm

操作軟(ruan)件：使(shi)用Laview環境語言控制，免費提供(gong)操作軟(ruan)件，并提供(gong)維護及(ji)升級

提供Gwyddion IMAGE ANALYSIS SOFTWARE 數(shu)據分析系(xi)統

頂視系統光學分(fen)辨率(lv)≤2微米

視場范圍從2mm*2mm到300um*300um可(ke)調，放大倍率從45倍到400倍機(ji)械可(ke)調

側視(shi)系(xi)統(tong)，提供(gong)可視(shi)化下針(zhen)，可以通(tong)過(guo)電腦精(jing)確觀察控制下針(zhen)過(guo)程，防(fang)止撞針(zhen)