品牌 | 其他品牌 | 儀器種類 | 原子力顯微鏡 |
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價格區間 | 面議 | 產地類別 | 進口 |
應用領域 | 食品,化工,生物產業,能源,制藥 |
spm掃描探針顯微鏡是一款專業級的原子力顯微鏡,Z軸噪音低于35皮米。該設備可以在不破壞樣品內部結構的情況下觀測樣品微區三維形貌和多相結構;同時可對樣品表面物理化學特性進行研究,數值測定與分析。
國內(nei)生產的HR-AFM原子力顯微鏡
標準工作模式:輕敲模式(Vibration mode),接觸模式 (Contact mode),相位成像模式 (Phase imaging),橫向力模式 (LFM),力曲線測試(Force Curve),納米操控 (Nanomanipulation),納米刻蝕 (Nanolithography),力矩陣模式 (Force Mapping),摩擦力測試 (Friction Mode)
可選工作模(mo)式:導(dao)電原子力顯(xian)微(wei)鏡(jing) (C-AFM),磁力顯(xian)微(wei)鏡(jing)(MFM),靜電力顯(xian)微(wei)鏡(jing)(EFM),掃描(miao)電勢(shi)顯(xian)微(wei)鏡(jing)(SKPM)。
spm掃描探針顯微鏡具有軟件自動進針功能。通過軟件控制Z方向馬達實現探針自動進針
X,Y,Z三軸分離的(de)掃描(miao)器
掃(sao)描范圍 100×100×17μm
Z軸分辨率(lv)0.035nm
樣品(pin)臺尺寸:25mm*25mm*18mm
操(cao)(cao)作(zuo)軟件:使用Laview環境(jing)語言(yan)控制,免費提供操(cao)(cao)作(zuo)軟件,并提供維護(hu)及升級
提供Gwyddion IMAGE ANALYSIS SOFTWARE 數據分(fen)析系(xi)統
頂視系統(tong)光學分辨率≤2微米
視場范(fan)圍(wei)從2mm*2mm到(dao)300um*300um可(ke)(ke)調(diao),放大倍(bei)率(lv)從45倍(bei)到(dao)400倍(bei)機械(xie)可(ke)(ke)調(diao)
側視(shi)系(xi)統(tong),提(ti)供可視(shi)化下針(zhen),可以通過電腦精確觀察控制下針(zhen)過程(cheng),防止撞針(zhen)
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