緊湊型原子力顯微鏡工作模式：

1.標準工(gong)作模式：

1.1輕(qing)敲模式(shi)(Vibration mode)

1.2接觸模式(Contact mode)

1.3相(xiang)位成像模(mo)式(Phase imaging)

1.4橫向(xiang)力模(mo)式(shi)(Lateral force Microscopy LFM)

1.5力曲線測試（Force curve）可測楊氏模量

1.6納米操控 （Nanomanipulation）

1.7納米刻(ke)蝕 （Nanolithography）

1.8力(li)矩陣模式 （Force Mapping）

1.9摩擦力(li)測試 （Friction Mode）

2. 可選(xuan)工作模式：

2.1 磁(ci)力顯微(wei)鏡模式（MFM mode）

2.2 靜(jing)電(dian)力顯(xian)微鏡模式(shi)（EFM mode）

2.3 導電(dian)顯(xian)微鏡模(mo)式(shi)（C-AFM mode）

2.4 液(ye)相(xiang)模式 （Liquid scan mode）

AFMWorkshop是(shi)專門從(cong)事設計和制造(zao)原子(zi)(zi)力顯微鏡的專業化公(gong)司 。公(gong)司創始人是(shi)有30年原子(zi)(zi)力顯微鏡經驗的 Paul West博士，原子(zi)(zi)力顯微鏡教材《Atomic Forces Microscopes》的作者。

緊湊型原子力顯微鏡技術參數

掃描范圍：100 μm，50 μm，15μmZ

方(fang)向范(fan)圍(wei)：17 μm，7 μm

XY方向驅動分(fen)辨率：0.01 nm

Z方向驅動(dong)分辨率：0.003 nm

Z方向測量噪音水平：0.15 nm

樣品尺寸：直徑25mm