簡(jian)要描述：簡易(yi)型(xing)原子力顯(xian)微(wei)(wei)(wei)鏡(jing)是一個與(yu)倒置(zhi)光(guang)學顯(xian)微(wei)(wei)(wei)鏡(jing)聯合(he)的(de)(de)用于生命科學和生物材料樣(yang)(yang)品研究顯(xian)微(wei)(wei)(wei)鏡(jing)。 是一個針式掃描的(de)(de)原子力顯(xian)微(wei)(wei)(wei)鏡(jing)。它(ta)包括電子控(kong)制器，光(guang)杠桿光(guang)學探測，光(guang)學顯(xian)微(wei)(wei)(wei)鏡(jing)，用于查看針尖和樣(yang)(yang)品的(de)(de)位置(zhi)，獲(huo)取圖像結果和后處理(li)的(de)(de)軟件。該(gai)系(xi)統具有在原子力顯(xian)微(wei)(wei)(wei)鏡(jing)XY軸上相對(dui)于倒置(zhi)顯(xian)微(wei)(wei)(wei)鏡(jing)來定(ding)位樣(yang)(yang)品。樣(yang)(yang)品臺適用于培(pei)養皿，載玻片和標準(zhun)AFM樣(yang)(yang)品臺.
產品型號：廠(chang)商性質(zhi)：生產廠家更新時(shi)間：2024-10-10訪(fang) 問 量：904| 品牌 | 其他品牌 | 儀器種類 | 原子力顯微鏡 |
|---|---|---|---|
| 價格區間 | 面議 | 產地類別 | 進口 |
| 應用領域 | 食品,化工,生物產業,能源,制藥 |
簡易型原子力顯微鏡工作模式：
1.標準工作模(mo)式：
1.1輕(qing)敲模式(shi)(Vibration mode)
1.2接(jie)觸模式(Contact mode)
1.3相位成像模式(Phase imaging)
1.4橫向(xiang)力模(mo)式(Lateral force Microscopy LFM)
1.5力曲線測(ce)試（Force curve）可測(ce)楊(yang)氏模量
1.6納米操控 （Nanomanipulation）
1.7納米(mi)刻蝕(shi) （Nanolithography）
1.8力矩陣模式(shi) （Force Mapping）
1.9摩擦力測試 （Friction Mode）
2. 可選工(gong)作模式：
2.1 磁力(li)顯(xian)微鏡(jing)模(mo)式(shi)（MFM mode）
2.2 靜電力顯(xian)微鏡(jing)模式（EFM mode）
2.3 導(dao)電顯微鏡(jing)模式（C-AFM mode）
2.4 液相模式(shi) （Liquid scan mode）
AFMWorkshop是專門從事設計和制造原子(zi)(zi)力(li)(li)顯微鏡的(de)專業化公司 。公司創始人是有(you)30年原子(zi)(zi)力(li)(li)顯微鏡經驗的(de) Paul West博士，原子(zi)(zi)力(li)(li)顯微鏡教材《Atomic Forces Microscopes》的(de)作者。
簡易型原子力顯微鏡技術參數
掃描范圍：100 μm，50 μm，15μm
Z方(fang)向范圍：17 μm，7 μm
XY方向驅動分辨率：0.01 nm
Z方(fang)向驅(qu)動分辨率：0.003 nm
Z方向測量(liang)噪音水平：0.15 nm
樣品尺寸：直徑25mm
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