針式掃描原子力顯微鏡主要優勢：

1、全新設(she)計(ji)的KMD運(yun)動學結構，降(jiang)低了噪(zao)音(yin)水平，輕松實(shi)現原(yuan)子級(ji)分辨(bian)率。

2、提供(gong)可視(shi)化下針系(xi)統，操作簡(jian)單(dan)，對新手友(you)好。

3、提高了掃描速度，10秒出(chu)圖。

針式掃描原子力顯微鏡工作模式

1.標準工作模(mo)式(shi)：

1.1 輕敲模式(Vibration mode)

1.2 接觸模式 (Contact mode)

1.3 相位成(cheng)像(xiang)模(mo)式(shi) (Phase imaging)

1.4 橫向(xiang)力(li)模式 (Lateral force Microscopy LFM)

1.5 力曲線測試（Force curve）可測楊氏模量

1.6 納米操(cao)控 （Nanomanipulation）

1.7 納(na)米刻蝕 （Nanolithography）

1.8 力(li)矩陣模式(shi) （Force Mapping）

1.9 摩(mo)擦力測試 （Friction Mode）

2. 可選工(gong)作(zuo)模式：

2.1 磁力顯微(wei)鏡模(mo)式（MFM mode）

2.2 靜電(dian)力顯微鏡(jing)模式（EFM mode）

2.3 導電顯微鏡模式（C-AFM mode）

2.4 液相模(mo)式 （Liquid scan mode）

AFMWorkshop是(shi)專(zhuan)門從事設計和制造原(yuan)子(zi)力(li)(li)(li)顯(xian)微(wei)鏡(jing)的(de)專(zhuan)業化公(gong)(gong)司(si) 。公(gong)(gong)司(si)創始(shi)人是(shi)有30年(nian)原(yuan)子(zi)力(li)(li)(li)顯(xian)微(wei)鏡(jing)經驗的(de) Paul West博(bo)士，原(yuan)子(zi)力(li)(li)(li)顯(xian)微(wei)鏡(jing)教材《Atomic Forces Microscopes》的(de)作者(zhe)。

掃描(miao)范圍：100 μm，50 μm，15μm

方向范圍：17 μm，7 μmXY

方向驅(qu)動分辨率：0.01 nm

方向(xiang)驅動分(fen)辨率：0.003 nm

方(fang)向測量噪音(yin)水平：0.03 nm

樣品尺寸：直徑25