便攜式原子力顯微鏡工作模式：

1.標準工作(zuo)模式：

1.1輕(qing)敲模式(Vibration mode)

1.2接觸模式(shi)(Contact mode)

1.3相位成像模式(Phase imaging)

1.4橫向力模式(Lateral force Microscopy LFM)

1.5力曲線(xian)測試(shi)（Force curve）可測楊氏模量

1.6納米操控 （Nanomanipulation）

1.7納米(mi)刻蝕 （Nanolithography）

1.8力矩陣模式 （Force Mapping）

1.9摩擦力測(ce)試 （Friction Mode）

2. 可選工(gong)作(zuo)模式：

2.1 磁力顯(xian)微(wei)鏡模式(shi)（MFM mode）

2.2 靜電(dian)力顯微(wei)鏡模式（EFM mode）

2.3 導(dao)電顯(xian)微鏡模式(shi)（C-AFM mode）

2.4 液相模(mo)式 （Liquid scan mode）

AFMWorkshop是專門從(cong)事設計和制造(zao)原(yuan)子(zi)力顯(xian)(xian)(xian)微(wei)(wei)鏡(jing)的專業化公司 。公司創(chuang)始人是有(you)30年(nian)原(yuan)子(zi)力顯(xian)(xian)(xian)微(wei)(wei)鏡(jing)經驗(yan)的 Paul West博士，原(yuan)子(zi)力顯(xian)(xian)(xian)微(wei)(wei)鏡(jing)教材(cai)《Atomic Forces Microscopes》的作者。

便攜式原子力顯微技術參數

掃描范圍(wei)：100 μm，50 μm，15μm

Z方向范圍：17 μm，7 μm

XY方(fang)向驅動分辨(bian)率：0.01 nm

Z方向驅動(dong)分辨(bian)率(lv)：0.003 nm

Z方向測量噪音水平：0.15 nm

樣品尺寸：直(zhi)徑25mm