AFM拉曼聯用系統工作模式：

1.標準(zhun)工作模式：

1.1輕敲(qiao)模式(Vibration mode)

1.2接觸模(mo)式(Contact mode)

1.3相位成像(xiang)模式(Phase imaging)

1.4橫向力模式(shi)(Lateral force Microscopy LFM)

1.5力(li)曲線測試（Force curve）可測楊(yang)氏模(mo)量

1.6納米操(cao)控 （Nanomanipulation）

1.7納米刻蝕 （Nanolithography）

1.8力(li)矩陣模式(shi) （Force Mapping）

1.9摩擦力測試 （Friction Mode）

2. 可選工作模式：

2.1 磁(ci)力顯微鏡模式（MFM mode）

2.2 靜電(dian)力顯微(wei)鏡模式（EFM mode）

2.3 導電顯微(wei)鏡(jing)模式（C-AFM mode）

2.4 液(ye)相模式 （Liquid scan mode）

AFMWorkshop是(shi)專(zhuan)門從事設計和制造原子(zi)力(li)顯微鏡(jing)的專(zhuan)業化公司 。公司創始人是(shi)有30年原子(zi)力(li)顯微鏡(jing)經驗的 Paul West博(bo)士，原子(zi)力(li)顯微鏡(jing)教材《Atomic Forces Microscopes》的作(zuo)者。

AFM拉曼聯用系統技術參數

掃(sao)描范(fan)圍(wei)：100 μm，50 μm，15μm

Z方(fang)向范圍(wei)：17 μm，7 μm

XY方向驅動(dong)分辨率：0.01 nm

Z方向驅動分辨率：0.003 nm

Z方向測量噪音水平：0.15 nm

樣品尺(chi)寸(cun)：直徑(jing)25mm