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多功能原子力顯微鏡是(shi)一種(zhong)具靈活性(xing)和功能性(xing)的表面分析工具，它能夠(gou)在納米(mi)尺度上對(dui)材料...

多功能掃(sao)描(miao)探針顯微鏡（ScanningProbeMicroscopy,SPM）是...

快速掃描探針(zhen)顯(xian)微(wei)鏡(jing)(jing)是一種高(gao)級的(de)顯(xian)微(wei)鏡(jing)(jing)技術，可(ke)以實現對樣品表面的(de)原子級、納米級或更...

簡易型原子力(li)顯微鏡是一種高分辨(bian)率(lv)的顯微鏡，它利(li)用原子力(li)探測器來感知樣(yang)品表面的微觀...

多功能(neng)掃描探針顯微(wei)鏡是一(yi)種高級顯微(wei)鏡，能(neng)夠以高的分辨率(lv)觀察并操縱樣品表面的原子和...

便攜式原子(zi)力顯微鏡（AFM）是一種能夠(gou)在微納米(mi)尺度下對樣品表面進行高分辨率成像和...

快速掃描探針顯微(wei)鏡(jing)（ScanningProbeMicroscope，SPM）是一...

便攜式原子(zi)力顯微鏡是(shi)一種具備高分辨率、便攜性和靈活性的先進(jin)科學儀器(qi)。它結合了原子(zi)...

緊湊型原子(zi)力(li)顯(xian)微鏡基于量子(zi)力(li)學中(zhong)的(de)(de)隧道效應原理工作。當兩個物體(ti)之間的(de)(de)距離非常接近時，它們之間的(de)(de)電(dian)子(zi)云會發生重疊，從而(er)產生隧道電(dian)流。通過測量這(zhe)個隧道電(dian)流的(de)(de)變化，可以精(jing)確地(di)探測到樣品表面的(de)(de)微小結(jie)構和形貌。具(ju)有亞納(na)米級(ji)的(de)(de)分辨率，能夠清晰(xi)地(di)觀察到原...

多功能掃(sao)描探針顯(xian)(xian)微(wei)鏡(jing)是一種強大的(de)表(biao)面分(fen)析(xi)工具，它能夠在納米尺(chi)度上對材(cai)料的(de)表(biao)面形貌、物理(li)性(xing)質、化(hua)學性(xing)質等進行綜合(he)分(fen)析(xi)。SPM家族中最常見的(de)兩種類型是掃(sao)描隧道(dao)顯(xian)(xian)微(wei)鏡(jing)（STM）和(he)原(yuan)子(zi)力顯(xian)(xian)微(wei)鏡(jing)（AFM）。這些顯(xian)(xian)微(wei)鏡(jing)不僅在科學研究(jiu)中發揮著重(zhong)要作用，也(ye)...

多功能原(yuan)子力(li)顯微鏡（AFM）是一種具(ju)靈活(huo)性和高分辨率的表面分析儀(yi)器，它不(bu)僅(jin)能夠提供(gong)材(cai)(cai)料表面的三(san)維形貌(mao)圖像，還能在納米(mi)尺度(du)上對(dui)材(cai)(cai)料進行操控(kong)和性質測量。這種顯微鏡的出現(xian)極大地推動了(le)材(cai)(cai)料科學、生物學、納米(mi)技術等領域的研究進展。原(yuan)子力(li)顯微鏡利用一根(gen)...

低溫掃描探針顯微(wei)(wei)鏡(jing)是一(yi)種高級的顯微(wei)(wei)成像(xiang)技術(shu)，結合(he)了掃描探針顯微(wei)(wei)鏡(jing)的高分辨率成像(xiang)能(neng)力和(he)低溫物(wu)理中(zhong)的分子(zi)尺度研(yan)究(jiu)方(fang)法(fa)。這(zhe)種設備通(tong)常用于材(cai)料科學、生物(wu)學和(he)納米技術(shu)的研(yan)究(jiu)，尤其是在(zai)需要對樣(yang)品進行原子(zi)級成像(xiang)時，同(tong)時要求減少熱激發(fa)或在(zai)接近(jin)絕對零度的條件...

原子(zi)力(li)顯微鏡（AFM）是一(yi)種高精(jing)度的(de)表(biao)面(mian)成像設備，它通過探針(zhen)與樣品表(biao)面(mian)相互(hu)作(zuo)用的(de)力(li)來(lai)進行(xing)掃描，實現原子(zi)級別的(de)分辨率。然而，由于AFM對環境(jing)振(zhen)動極為敏感(gan)，因此必(bi)須配合(he)使用高性(xing)(xing)能(neng)的(de)防震平(ping)臺，以確保測量的(de)準確性(xing)(xing)和重復性(xing)(xing)。原子(zi)力(li)顯微鏡用防震平(ping)臺的(de)設...

針(zhen)式掃描原子(zi)力(li)(li)(li)顯微(wei)鏡（SPM）以其(qi)原子(zi)級別的(de)高分(fen)辨率和對(dui)樣品(pin)非(fei)破(po)壞性的(de)檢測能力(li)(li)(li)，成為科(ke)研及工業領域的(de)先進分(fen)析工具(ju)。基于量(liang)子(zi)力(li)(li)(li)學原理，通過一個尖銳的(de)探(tan)針(zhen)來感(gan)知樣品(pin)表面的(de)原子(zi)力(li)(li)(li)場。當探(tan)針(zhen)尖與樣品(pin)表面接近(jin)時(shi)，原子(zi)間的(de)排斥(chi)力(li)(li)(li)或吸引力(li)(li)(li)會導致探(tan)針(zhen)發生微(wei)...

多功能原子力顯微鏡是一(yi)種高(gao)分辨率的(de)顯微成像技術(shu)，不(bu)僅可以在納(na)米(mi)尺度上(shang)對樣品表(biao)面進行形貌表(biao)征(zheng)，還能研(yan)究物(wu)(wu)質的(de)其他物(wu)(wu)理性(xing)質，如力學(xue)特性(xing)、磁(ci)性(xing)、電學(xue)性(xing)質等。核心部(bu)分是一(yi)根具(ju)有微小尖的(de)懸臂(bei)梁（cantilever），其末端(duan)裝有探針。當探針靠近樣品表(biao)...

多功能(neng)原子力(li)顯(xian)微鏡是一種具(ju)有(you)高分辨率(lv)的(de)(de)表面分析儀器，能(neng)夠提供物質表面微觀(guan)結構的(de)(de)三維(wei)圖像。與傳統的(de)(de)光學(xue)顯(xian)微鏡或電子顯(xian)微鏡不同(tong)，AFM不依賴任何形式的(de)(de)光學(xue)或電子成像，而(er)是通過探(tan)針與樣品之間(jian)的(de)(de)物理作用力(li)來獲取表面信息。AFM使用一個微小的(de)(de)探(tan)針（通...